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基于并行计算的抛光轴表面缺陷检测研究

作者:姜庆胜,李研彪,计时鸣* 日期:2021-02-24/span> 浏览:116 查看PDF文档

基于并行计算的抛光轴表面缺陷检测研究*
姜庆胜,李研彪,计时鸣*
(浙江工业大学 机械工程学院,浙江 杭州 310023)

摘要:针对在生产实践中抛光轴表面缺陷检测的实时性和缺陷分类需求问题,对抛光轴表面缺陷检测系统、缺陷图像采集、图像特征、传统检测方法等方面进行了研究,归纳了轴表面缺陷检测的处理方法。提出了两种基于并行计算的检测系统,即基于云的Spark多机并行的分布式计算机集群检测系统和单机多核的CUDA并行处理检测系统;通过Spark架构多机分布式并行计算机理的分析,以及结合CUDA单机多核并行运算原理,从数学角度进行了并行化处理,最后进行了相应的实验。研究结果表明:基于CUDA的单机多核的并行处理检测系统适合实时检测,基于Spark的多机分布式并行检测系统不适合实时检测系统,但适合大数据处理系统。
关键词:图像处理;Spark;分布式并行计算;图像处理单元;CUDA
中图分类号:TH133.2;TP391.4        文献标识码:A         文章编号:1001-4551(2020)12-1540-07

本文引用格式:
姜庆胜,李研彪,计时鸣.基于并行计算的抛光轴表面缺陷检测研究[J].机电工程,2020,37(12):1540-1546.
JIANG Qing-sheng, LI Yan-biao, JI Shi-ming. Surface defect detection of polishing shaft based on parallel computation[J].Journal of Mechanical & Electrical Engineering, 2020,37(12):1540-1546.《机电工程》杂志:http://www.meem.com.cn

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