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激光干涉测量中条纹计数的CPLD设计及实现

作者：韦丰　陈本永　杨将新日期：2007-03-08/span> 浏览：4149 查看PDF文档

激光干涉测量中条纹计数的CPLD设计及实现

The Counting about Interference Fringe by CPLD

韦丰　陈本永　杨将新　

摘　要：使用CPLD设计并实现了采用干涉条纹进行测量的光学测量系统中的计数电路部分,取代了传统的多元件分立的电路设计,达到了很好的效果,满足了光学干涉测量准确快速测量的要求.此分析适用于一般条纹计数系统.
关键词：CPLD;VHDL;干涉条纹计数;动镜
分类号：TP274　文献标识码：A
文章编号：1001-4551(2005)05-0047-04

基金项目：国家自然科学基金资助项目(50275138).
作者简介：韦丰(1978-),男,江苏镇江人;硕士研究生,主要从事精密测量领域的研究.
作者单位：韦丰（浙江大学,机械工程系,浙江,杭州,310027）　
　　　　　陈本永（浙江理工大学,测控系,浙江,杭州,310033）　
　　　　　杨将新（浙江大学,机械工程系,浙江,杭州,310027）　

参考文献：

[1]Kevin Skahill. VHDL for PROGRAMMABLE LOGIC[ M ]. Cypress Semiconductor. , 1998.
[2]任晓东,文博.CPLD/FPGA高级应用开发指南[M].北京:电子工业出版社,2003.
[3]杨国光.近代光学测试技术[M].杭州:浙江大学出版社,1997.
[4]殷纯永.现代干涉测量技术[M].天津:天津大学出版社,1999.
[5]王永仲,琚新军,胡心.智能光电系统[M].北京:科学出版社,1999.