基于STM32的高精度三电极测试电路研究*

作者：苑恒，徐军明*，胡晓萍 日期：2014-04-30/span> 浏览：2644 查看PDF文档

基于STM32的高精度三电极测试电路研究*
苑恒，徐军明*，胡晓萍
（杭州电子科技大学电子信息学院，浙江杭州310018）
摘要：针对目前市场上三电极测试产品存在的体积大、价格昂贵等问题，在对三电极工作原理分析的基础上，设计了三电极系统的结构模型，并提出了一种新型的基于STM32微控制器的三电极测试电路。测试电路由恒电位仪电路和电压放大电路构成，以高精密仪器运算放大器为核心器件设计了恒电位仪电路；采用同相并联结构的差分放大电路实现了对微电压的高倍率放大，并用I2C接口的A/D芯片采样放大后的电压信号。研究结果表明，该三电机测试电路的电位误差在1 mV以内，测试电流的下限达到0.1 μA；电路可以用来生产便携式三电极测试设备。
关键词：恒电位仪；基准电压发生电路；微电流检测电路；STM32
中图分类号：TH83 文献标志码：A 文章编号：1001-4551（2014）02-0186-05

本文引用格式：
苑恒，徐军明，胡晓萍. 基于STM32的高精度三电极测试电路研究［J］. 机电工程，2014，31（2）：186-190.
JYUAN Heng，XV Jun-ming，HU Xiao-ping. High precision three-electrode test circuit based on STM32［J］. Journal of Mechanical & Electrical Engi⁃neering，2014，31（2）：186-190.