基于ARM和CPLD的横机机头电路测试系统

作者：姚 璐，董林玺* 日期：2012-05-03/span> 浏览：3117 查看PDF文档

基于ARM和CPLD的横机机头电路测试系统
姚  璐，董林玺*
（杭州电子科技大学 射频电路与系统教育部重点实验室， 浙江 杭州 310018）

摘要： 为解决电脑横机机头控制系统信号的测试可靠性问题，基于低成本、高效率的考虑，研究设计了机头控制系统电路板的批量测试系统。该系统采用TI公司的LM3S5R31芯片作为系统的核心部分，通过CPLD进行I/O扩展及辅助控制，使得系统功能灵活强大。将同一信号通路中的前后级元件信号进行编码，向待测板发送握手信号并使之发送反馈信号，该系统将反馈信号进行采样并在程序中比较计算，制作了实物并进行了大量实验。研究结果表明，该测试系统可有效解决电脑横机机头控制系统的快速故障测试及定位问题。
关键词： 电脑横机；测试系统；ARM；CPLD
中图分类号：TP273；TH69；TM133   文献标志码：A  文章编号：1001-4551（2012）02-0208-03

本文的文献著录格式： 

姚  璐，董林玺.基于ARM和CPLD的横机机头电路测试系统[J],机电工程,2012,29(2):208-210.
YAO Lu， DONG Lin-xi.Test system based on ARM+CPLD for head control part of computerized flat knitting machine[J],Journal of Mechanical & Electrical Engineering,2012,29(2):208-210.