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基于表面温度法的接触线磨耗红外诊断
作者：阎玲玲，金立军*，张文豪，杨政勃 日期：2012-03-05/span> 浏览：3258 查看PDF文档
基于表面温度法的接触线磨耗红外诊断
阎玲玲，金立军*，张文豪，杨政勃
（同济大学 电气工程系，上海 201804）
摘要： 为解决接触网接触线磨耗检测问题，将红外技术应用到接触线磨耗检测中。开展了接触线磨耗缺陷处温升分析，建立了接触线的表面温度与其横截面积之间的关系，提出了利用接触线缺陷处温度计算横截面积的方法，在测量误差上对接触线磨耗的判断方法进行了评价，在实验室模拟了接触线温升的试验。研究结果表明，利用表面温度法对接触线磨耗的测量误差不超过10%，证明了该方法的可用性。
关键词：接触线；磨耗；红外诊断；温升
中图分类号：U226.5+4；TM726.3；TH741 文献标志码：A 文章编号：1001-4551（2011）12-1426-04
本文的文献著录格式：
阎玲玲,立军,张文豪,杨政勃.基于表面温度法的接触线磨耗红外诊断[J],机电工程,2011,28(12):1426-1429.
YAN Ling-ling, JIN Li-jun,ZHANG Wen-hao, YANG Zheng-bo.Journal of Mechanic&ElectricalEngineering,2011,28(12):1426-1429.
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